TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻LCR測試儀是常州同惠電子采用當前國際先進的射頻IV法原理研制成功的新一代 阻抗測試儀器，為國產阻抗測試儀器的*新高度。

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻LCR測試儀也徹底超越了國內外同類儀器3GHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀 器只能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外 儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。 

快達0.4ms的測試速度、及高達60kΩ的阻抗測試范圍可以滿 足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質 因數(Q)電感器的測量。自動電長度測量和測試端外置的端口配置 方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將射頻IV阻抗測試能力突 破3GHz達到5GHz。

TH2852 - 050性能特點

• 測試頻率：1MHz-500GHz 
• 基本精度：±0.3%（典型值） 
• 高精度：采用射頻IV法，在GHz能仍保持很高的測試精度 
• 高穩定性和一致性 
• 高速度：*快達0.4ms/點的測試速度 
• 高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800 
• 點測、列表、掃描、等效電路分析，自動化分選 
• 1601點多參數列表掃描功能 
• 四參數測量 
• 4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14   種分屏顯示方式 
• 圖形掃描模式每條曲線單獨分選，頻率分段掃描并分選 
• 高兼容性：支持SCPI指令集 
• 集成史S密斯圓圖，不需要網絡分析儀即可調試射頻阻抗匹配 
• 測試頭外置+自動電氣長

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻LCR測試儀包括以下幾種類型：

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻LCR測試儀區別：

A.高精度 

寬帶射頻IV法電橋技術的應用，得以在1MHz-5GHz頻率、100mΩ-60kΩ的阻抗范圍內都能達到理想的10%測量精度，其中*高測試精度達±0.3%，遠遠高于網絡分析儀的測試精度。

B.高穩定性和高一致性 

測試條件：速度5，輸出功率-10dBm(141mV)，TH2852-1測試頭被測件50Ω標準件。

C.高速度

D.10.1吋大屏，四種測量參數，讓細節一覽無遺 

10.1吋觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統、中英 文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的 是無以倫比的操作便捷性。 大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕，而且看起來絕 不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數，四種測量參數任意 可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數。

E.增強的列表掃描功能 

可以*多設置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設置測試 頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.強大的分析圖形界面 

*多可以4通道同時顯示，每個通道 可以*多顯示4條曲線。通道和曲線各有 十四種分屏顯示方法。

       單通道四曲線顯示             單通道單曲線

       雙通道雙曲線顯示           四通道四曲線

G.分段掃描功能 

單通道四曲線顯示 雙通道雙曲線顯示 單通道單曲線 四通道四曲線 分段掃描是在一個掃描周期內，設置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設置不同的電平及偏置，掃描結果直接圖形顯示， 用于需要快速篩選多個頻率段參數的掃描需求。 如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內掃描測量，無需掃描 不相關頻率。

H.強大的光標分析能力 

TH2852 系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現如下功能： 1. 讀取測量結果的數值（作為**數值或者相對于參考點的相對值） 2. 3. 4. 查找曲線上的特定點（光標查找） 分析曲線測量結果，計算統計數據 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放 TH2852 系列可以在每條曲線上顯示 10 個光標，包括了參考光標。 每個光標有一個激勵值（坐標系 X 軸對應的數值）和響應值（坐標系 Y 軸對應的數值）。 光標查找功能允許搜索下列條件測量點： *大值、*小值 峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標左側*近的峰谷值、光標右側*近的峰谷值、多重峰谷值 目標值： 距離光標*近的目標值、光標左側*近的目標值、光標右側*近的目標值、多重目標值

I.強大的圖形分析功能 

1） 曲線分選功能 可以對掃描曲線全部或者部分區域的測試值進行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

2） 等效電路分析 

現實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數四種模型、四 參數三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路 模型用于等效這些器件。 可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲 線進行對比，還可以通過您輸入的參數按照所選擇的模型進行擬合。 等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用。

3） 曲線軌跡對比 

曲線軌跡對比用于對被測件進行連續測量，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應用： 

a) 針對多種不同被測件 對比不同測量條件下的曲線軌跡 設置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值 

b) 針對同一個被測件 對比同一個條件下測量的多次測量結果重復性 設置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

J.介電常數分析（選件） 

TH2852系列精密阻抗分析儀支持介質材料介電常數、介質損耗分析，需選購測試夾具及分析軟件。

2.TH26089介質材料測試夾具 

TH26089電介質材料測試夾具是設計在TH2852系列上進行準確的介電常數及介質損耗測量的夾具。通過使用平行板方法 測量固態材料的介電常數，從而消除離散電容。

1）TH26089外形結構

2）基本參數

3.介電常數分析軟件 

該軟件為選件，開通后在TH2852系列界面直接選擇對應的參數即可，分別可以單測、列表掃描、曲線掃描，下圖為曲線掃描界面。

F. 磁導率分析

TH2852系列支持磁性材料磁導率測試，在主機的基礎上，需選配測試夾具及磁導率分析軟件，具體配置如下：

1.配置

2.測試夾具

1）TH26088外型結構

2）TH26088磁導率測試夾具

TH26088可**測量環形磁性材料的磁導率。由于該夾具的結構是環形線圈繞一圈（無漏磁），因此不需要繞環形線圈的導線，而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個小型和一個大型夾具，適應各種尺寸，是測量磁性材料的理想結構。

3）技術參數

4.磁導率分析軟件選擇開通磁導率分析軟件之后，儀器便可以在單測、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導率參數，直接在界面顯示測試結果。

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