1?? 測試頻率：1MHz – 5GHz，能夠適配 HF 到 C 波段范圍內絕大多數射頻工程應用場景。

2?? 頻率設置分辨率：1mHz，能夠在極窄的頻帶內進行精細掃描，滿足晶體諧振器、聲表面波濾波器等對頻率精度要求極高的測量需求。

對比傳統電橋，射頻IV法無需復雜平衡校準，直接采樣實時計算，從根源規避高頻寄生參數引發的相位漂移與雜散誤差，**適配中高頻、射頻乃至微波頻段精密測量。TH2852系列射頻阻抗分析儀四項核心指標**超越國際同類產品，為射頻測試提供高效精準的國產替代新選擇。

（二）寬廣的阻抗測量范圍與高精度

1?? 阻抗測量范圍：120 mΩ ～ 60 kΩ，兼顧低阻抗功率器件與高阻抗材料特性分析。

2??基本精度：±0.3%（典型值），確保了測試結果的**可信，滿足了從研發驗證到質量控制的高標準要求。

3?? 測試速度：*快達 0.4 ms/點，可在毫秒級內完成單點測量，大幅提升產線效率。

（三）深度分析功能矩陣

TH2852系列射頻阻抗分析儀內置多種**分析與選件功能，可滿足不同應用場景的深入測試：

1?? 曲線掃描功能：該功能將射頻器件的復雜行為可視化，為深入分析和診斷提供*直接的依據。

TH2852系列擁有十分強大的掃頻功能，能在1MHz-5GHz下進行曲線掃描。

2?? 等效電路分析測試：復雜射頻結構直接電磁場仿真算力大、耗時長，等效電路分析可將其抽象化為簡化模型，精準復現端口參數，是高效系統仿真的核心基礎。

現實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

3?? 介電常數分析（選件）?：該功能揭示了材料與電場相互作用的全貌，是介質材料高頻特性設計的基礎。

TH2852系列支持介質材料介電常數、介質損耗分析，需選購測試夾具及分析軟件。

4?? 磁導率測量（選件）? ：該功能解鎖了材料對磁場響應的窗口，是開發射頻磁性材料和器件的關鍵。

TH2852系列支持磁性材料磁導率測試，在主機的基礎上，需選配測試夾具及磁導率分析軟件。

5?? 史密 斯圓圖功能：史密 斯圓圖（Smith Chart）是射頻 / 微波工程統一處理阻抗、導納、反射系數的圖解工具。

一張圖就能完成：阻抗匹配、傳輸線計算、駐波比、反射損耗、負載變換、匹配網絡設計。